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產品型號：F10-AR-UV
更新時間：2024-11-21簡要描述：美國filmetrics 薄膜測量儀F10-AR-UV輕松且經濟地測量減反射涂層和硬質涂層F10-AR 是首的款專為簡單、經濟實惠的眼科抗反射 (AR) 涂層測量而設計的儀器。 AR 涂層測量儀器的成本只是當今使用的大多數儀器的一小部分，它包含多項專有的先進技術，使生產線操作員只需經過幾分鐘的培訓，即可在幾秒鐘內獲得結論性的讀數。
| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環(huán)保,化工,能源,電子,綜合 |
美國filmetrics 薄膜測量儀F10-AR-UV增透膜測量
輕松且經濟地測量減反射涂層和硬質涂層
F10-AR 是首的款專為簡單、經濟實惠的眼科抗反射 (AR) 涂層測量而設計的儀器。 AR 涂層測量儀器的成本只是當今使用的大多數儀器的一小部分，它包含多項專有的先進技術，使生產線操作員只需經過幾分鐘的培訓，即可在幾秒鐘內獲得結論性的讀數。最小、最大和平均反射率可以在任意數量的用戶定義的波長范圍內進行通過/不通過測試。特殊的算法可以校正由硬涂層引起的局部反射率失真。我們專有的 AutoBaseline 功能可大幅增加基線間隔，其精度比其他基于光纖探頭的反射率測量系統(tǒng)高出五倍。測量硬涂層厚度 0。25-15μm，帶有我們可選的 UPG-F10-AR-HC 軟件升級。即使存在 AR 層，測量硬涂層厚度也沒有問題。
無需背面準備
我們獨的特的探頭設計可在 1.5 毫米厚的基板上抑制 98% 的背面反射，在更厚的透鏡上抑制更多。與我們所有的薄膜測量系統(tǒng)一樣，F10-AR 可連接到 Windows® 計算機的 USB 端口，并在幾分鐘內完成設置。
美國filmetrics 薄膜測量儀F10-AR-UV增透膜測量
輕松且經濟地測量減反射涂層和硬質涂層
F10-AR 是首的款專為簡單、經濟實惠的眼科抗反射 (AR) 涂層測量而設計的儀器。 AR 涂層測量儀器的成本只是當今使用的大多數儀器的一小部分，它包含多項專有的先進技術，使生產線操作員只需經過幾分鐘的培訓，即可在幾秒鐘內獲得結論性的讀數。最小、最大和平均反射率可以在任意數量的用戶定義的波長范圍內進行通過/不通過測試。特殊的算法可以校正由硬涂層引起的局部反射率失真。我們專有的 AutoBaseline 功能可大幅增加基線間隔，其精度比其他基于光纖探頭的反射率測量系統(tǒng)高出五倍。測量硬涂層厚度 0。25-15μm，帶有我們可選的 UPG-F10-AR-HC 軟件升級。即使存在 AR 層，測量硬涂層厚度也沒有問題。
無需背面準備
我們獨的特的探頭設計可在 1.5 毫米厚的基板上抑制 98% 的背面反射，在更厚的透鏡上抑制更多。與我們所有的薄膜測量系統(tǒng)一樣，F10-AR 可連接到 Windows® 計算機的 USB 端口，并在幾分鐘內完成設置。
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